突破宽带限制：色散样品超宽带叠层扫描成像新方法亮相
X射线叠层扫描成像技术作为同步辐射装置中的关键成像手段，长期面临实验室X射线源性能不足的挑战。传统光源存在时间相干性差、通量低等问题，导致难以实现高分辨率成像。随着材料科学、半导体检测及生物成像领域对纳米级分辨率需求的激增，开发适用于实验室环境的X射线成像技术
色散样品
色散样品的超宽带叠层扫描成像
X射线叠层扫描成像技术是X射线同步辐射装置上一种有效的成像技术。实验室规模的X射线源的时间相干性差，通量低，严重阻碍了X射线叠层扫描成像技术的实现。对材料的精确表征、半导体器件的非破坏性检测以及生物样品在其自然状态下的高分辨率成像的日益增长的需求突出了X射线成